CIRCUITRY FOR MEASURING PLASTIC DEFORMATIONS CAUSED BY HYSTERESIS LOOP IN DYNAMIC TESTS OF MATERIALS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	CERVENCL,MILAN,CS, KNEIFL,MIROSLAV,CS
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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