FACILITY FOR METERING THE SPECIFIC RESISTANCE OF THE CONDUCTIVE AND SEMICONDUCTIVE MATERIALS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	PLIVA,JIRI,CS, JURCA,MILOS,CS, CADEK,KAREL,CS
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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