光掩模注记差量测装置
本申请提供一种光掩模注记差量测装置,应用于光掩模的应用技术领域,其中,包括基体、量测件以及填充件;所述量测件和填充件设置在所述基体上,且所述填充件围绕所述量测件外设置,被配置为,该量测装置用于设置在待测光掩模;设置在待测光掩模的量测件周围存在有密度差异区域,且所述填充件位于所述密度差异区域与所述量测件之间,被配置为,所述填充件用于阻隔密度差异区域和量测件。本申请填充件位于量测件与密度差异区域之间,减少了量测件周围区域密度的不均匀性,降低了密度变化对注记差量测装置的影响,使得量测结果更符合待测光掩模实际情况,提高光掩模注记差的量测精度。...
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Format: | Patent |
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Sprache: | chi |
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Zusammenfassung: | 本申请提供一种光掩模注记差量测装置,应用于光掩模的应用技术领域,其中,包括基体、量测件以及填充件;所述量测件和填充件设置在所述基体上,且所述填充件围绕所述量测件外设置,被配置为,该量测装置用于设置在待测光掩模;设置在待测光掩模的量测件周围存在有密度差异区域,且所述填充件位于所述密度差异区域与所述量测件之间,被配置为,所述填充件用于阻隔密度差异区域和量测件。本申请填充件位于量测件与密度差异区域之间,减少了量测件周围区域密度的不均匀性,降低了密度变化对注记差量测装置的影响,使得量测结果更符合待测光掩模实际情况,提高光掩模注记差的量测精度。 |
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