Method and apparatus for thermal characterization under non-uniform heat load

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	HAMANN HENDRIK F.,IYENGAR MADHUSUDAN K.,LACEY JAMES A.,SCHMIDT ROGER R
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS CALCULATING CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS COMPUTING COUNTING ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS PHYSICS PRINTED CIRCUITS SEMICONDUCTOR DEVICES
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