Chemical mechanical polishing pad, manufacturing process thereof and chemical mechanical polishing method for semiconductor wafers

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: HASEGAWA KOU, OKAMOTO TAKAHIRO, MIYAUCHI HIROYUKI, SHIHO HIROSHI, KAWAHASHI NOBUO, HOSAKA YUKIO
Format: Patent
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung: