Interface comprising a thin PCB with protrusions for testing an integrated circuit

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	LERUEZ SEBASTIEN, JARDIN-LEMAGNEN FREDERIC, SAVIN EMANNUEL
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS CURRENT COLLECTORS ELECTRICITY LINE CONNECTORS MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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