High speed flaw detecting apparatus and method for detecting reflective material

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	BARRY S. SMITH,MICHAEL J. MULLINS,ROY VAN DERLINDEN
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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