一种基于多视角狭缝全长X光摄影的测量方法及装置

本发明公开了一种基于多视角狭缝全长X光摄影的测量方法,利用多组拍摄组件对待拍摄物体进行拍摄,按照预设移动速度移动,同时按照预设帧率进行拍摄,得到若干影像图片。选取一组影像图片,并进行影像拼接。若平板高度小于平行光厚度,则将相邻的影像图片按对应平板所在物理位置进行拼接,得到拼接影像。反之则进行影像匹配,获取相邻影像图片之间的最佳横向偏移与最佳纵向偏移,并得到拼接影像。将所有拼接影像的纵坐标和横坐标映射至真实物理位置像素,实现基于匹配拼接影像的测量。本发明无需高帧率与大功率放射球管连续工作。适用任意模式窄缝。对X光设备运动误差具有一定容忍度。无需在拍摄过程中额外进行工件拍摄以进行标定。...

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Format: Patent
Sprache:chi
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Zusammenfassung:本发明公开了一种基于多视角狭缝全长X光摄影的测量方法,利用多组拍摄组件对待拍摄物体进行拍摄,按照预设移动速度移动,同时按照预设帧率进行拍摄,得到若干影像图片。选取一组影像图片,并进行影像拼接。若平板高度小于平行光厚度,则将相邻的影像图片按对应平板所在物理位置进行拼接,得到拼接影像。反之则进行影像匹配,获取相邻影像图片之间的最佳横向偏移与最佳纵向偏移,并得到拼接影像。将所有拼接影像的纵坐标和横坐标映射至真实物理位置像素,实现基于匹配拼接影像的测量。本发明无需高帧率与大功率放射球管连续工作。适用任意模式窄缝。对X光设备运动误差具有一定容忍度。无需在拍摄过程中额外进行工件拍摄以进行标定。