一种用于彩色相位测量轮廓术的颜色串扰误差去除方法

本发明涉及一种用于彩色相位测量轮廓术的颜色串扰误差去除方法。通过对串扰模型的分析,发现三通道的颜色分离过程中,会对条纹的背景光强度、调制度以及相位偏移量造成影响,导致不满足相移法计算满周期包裹相位的条件。本方法通过归一化可高效处理该问题。对颜色串扰造成三通道相位偏移量的变化,本申请提出了相位校正矩阵,保证校正后的相位偏移量满足满周期包裹相位计算的要求,最终,消除了颜色串扰误差对三维重建结果的影响。...

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Format: Patent
Sprache:chi
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Zusammenfassung:本发明涉及一种用于彩色相位测量轮廓术的颜色串扰误差去除方法。通过对串扰模型的分析,发现三通道的颜色分离过程中,会对条纹的背景光强度、调制度以及相位偏移量造成影响,导致不满足相移法计算满周期包裹相位的条件。本方法通过归一化可高效处理该问题。对颜色串扰造成三通道相位偏移量的变化,本申请提出了相位校正矩阵,保证校正后的相位偏移量满足满周期包裹相位计算的要求,最终,消除了颜色串扰误差对三维重建结果的影响。