一种CEI系统中高精度的相时延求解方法

本发明公开了一种CEI系统中高精度的相时延求解方法,属于高精度时延测量技术领域。本发明利用轨道位置精确已知的外标校源,在干涉相位测量过程中直接标校去除干涉相位中下行链路引入的固定系统差,然后再利用标校后的干涉相位求解群时延和相时延,利用群时延求解相时延的整周模糊值,从而得到高精度的载波相时延干涉测量结果。本发明大大提高了CEI系统时延的测量精度,使CEI可以在几十公里量级较短基线情况下可以获取与VLBI上千公里长基线相同的定轨精度。...

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Format: Patent
Sprache:chi
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Zusammenfassung:本发明公开了一种CEI系统中高精度的相时延求解方法,属于高精度时延测量技术领域。本发明利用轨道位置精确已知的外标校源,在干涉相位测量过程中直接标校去除干涉相位中下行链路引入的固定系统差,然后再利用标校后的干涉相位求解群时延和相时延,利用群时延求解相时延的整周模糊值,从而得到高精度的载波相时延干涉测量结果。本发明大大提高了CEI系统时延的测量精度,使CEI可以在几十公里量级较短基线情况下可以获取与VLBI上千公里长基线相同的定轨精度。