Post-event analysis method and device for ionosphere model

The invention provides a post-analysis method and device for an ionosphere model. The device comprises a global range total electron content analysis module, an ionosphere delay calculation module and an ionosphere model judgment module. The ionosphere delay calculation module calculates a BDS-3 ion...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: WANG XUN, HAN SHUWEN, LEI FUJUN, SUN YINING, WANG YIXIN, GAO YAHAO
Format: Patent
Sprache:chi ; eng
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