X-ray diffraction imaging bicrystal spectrometer
The invention relates to an X-ray diffraction imaging bicrystal spectrometer, and belongs to the field of spectrum detection devices. Aiming at a traditional spherical curved crystal spectrometer withaberration, the astigmatism-free X-ray diffraction imaging spectrometer based on the double-spherica...
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Format: | Patent |
Sprache: | chi ; eng |
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