Full-strain measurement type in-situ nanometer impress/scratch testing device

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	HUANG HU, SHI CHENGLI, ZHAO HONGWEI, WAN SHUNGUANG
Format:	Patent
Sprache:	chi ; eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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