Variable-frequency series resonance test method based on FPGA (field programmable gate array)

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	LIU MIN, XIE BINGPING, XIE DEYING, FU ZHIHONG, ZHU YIGANG, LIN ZHIMING, LI GUOLIANG, DONG YUXI, LI CHUNYAN, XIAO YUN, HUANG SUIWEN, WANG JUNXING, WANG YUNLONG, ZENG LI, CHEN FEN, WANG WANBAO
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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