Enhanced control in scan tests of integrated circuits with partitioned scan chains

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	TIWARI RAJESH K, HALES ALAN D, NAKIDI SRUJAN K, PAREKHJI RUBIN A, RAVI SRIVATHS
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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