Ultrashort baseline extensometer

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	MEI JIANCHANG, ZHANG WEIHUA, YAO ZHIGUI, LI JIAMING
Format:	Patent
Sprache:	chi ; eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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