METHOD FOR RECONSTRUCTION OF A THICKNESS PROFILE OF A PART TO BE INSPECTED

A method for reconstructing a thickness profile of a part to be tested comprising, for a plurality of distinct transmission points, the following steps: - for a current transmission point, transmitting a plurality of ultrasound bursts; - generating a plurality of background echo signals associated w...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: HAOUA, JIMMY, LAZZARI, OLIVIER
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A method for reconstructing a thickness profile of a part to be tested comprising, for a plurality of distinct transmission points, the following steps: - for a current transmission point, transmitting a plurality of ultrasound bursts; - generating a plurality of background echo signals associated with a respective ultrasound burst; - selecting a burst having the background echo signal with the greatest amplitude; - calculating a background time of flight for the selected signal; - calculating the coordinates of a surface contact point for the selected burst; - calculating a set of potential positions for the internal surface (3) of the part to be tested according to the background time of flight, the coordinates of the external surface contact point and a propagation medium in the part to be tested, the method further comprising the step of calculating the internal surface profile (3) of the part to be tested by joining together disjunct portions of the sets of potential positions. Procédé de reconstruction d'un profil d'épaisseur de pièce à contrôler comportant, pour une pluralité de points d'émission distincts, les étapes suivantes:- pour un point d'émission courant, émettre une pluralité de tirs ultrasonores,- générer une pluralité de signaux d'écho de fond associés à un tir ultrasonore respectif,- sélectionner un tir présentant le signal d'écho de fond de plus grande amplitude,- calculer pour ledit tir sélectionné un temps de vol de fond,- calculer les coordonnées d'un point de contact de surface pour ledit tir sélectionné,- calculer un ensemble de positions potentielles de la surface interne (3) de la pièce à contrôler en fonction du temps de vol de fond, des coordonnées du point de contact de surface externe et d'un milieu de propagation dans la pièce à contrôler,le procédé comportant en outre l'étape de calculer le profil de la surface interne (3) de la pièce à contrôler par jonction de portions disjointes des ensembles de positions potentielles.