SENSOR CALIBRATION AND OPERATION

Disclosed herein as methods, apparatuses, non-transitory computer readable media, and systems for sensor calibration in at least one enclosure. The calibration may include self-calibration of the sensor, e.g., automatically. The calibration may be performed automatically at or after deployment of th...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	MAKKER, TANYA, GUPTA, ANURAG, VANGATI, MAHENDER, TRIKHA, NITESH, MALIK, AJAY
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Disclosed herein as methods, apparatuses, non-transitory computer readable media, and systems for sensor calibration in at least one enclosure. The calibration may include self-calibration of the sensor, e.g., automatically. The calibration may be performed automatically at or after deployment of the sensor in the enclosure. The calibration may utilize the data of the sensor to be calibrated and/or sensor data of adjacent sensor(s) in the enclosure. Sont divulgués des procédés, des appareils, des supports non transitoires lisibles par ordinateur et des systèmes d'étalonnage de capteur dans au moins une enceinte. L'étalonnage peut comprendre l'auto-étalonnage du capteur, par exemple, automatiquement. L'étalonnage peut être effectué automatiquement au moment du déploiement du capteur dans l'enceinte ou après. L'étalonnage peut utiliser les données du capteur à étalonner et/ou des données de capteur d'un ou de plusieurs capteurs adjacents dans l'enceinte.