SENSOR MODULE FOR MULTIPARAMETRIC ANALYSIS OF A MEDIUM

The invention relates to a sensor module (1) for multiparametric analysis of a medium (105) and to the uses thereof. The sensor module (1) according to the invention is characterised by a combination of photonic and non-photonic measurement principles with parameter-sensitive coatings (103) on a sub...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: LAU, MATTHIAS
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:The invention relates to a sensor module (1) for multiparametric analysis of a medium (105) and to the uses thereof. The sensor module (1) according to the invention is characterised by a combination of photonic and non-photonic measurement principles with parameter-sensitive coatings (103) on a substrate (100). A plurality of properties of a medium (105) can be detected over wide parameter ranges, wherein the most suitable method can be used for the corresponding parameter, at least for example with regard to the accuracy, the long-term stability, the resolution, the reproducibility, the energy consumption, the manufacturing costs, the necessary space requirements. L'invention concerne un module de capteur (1) pour l'analyse multiparamétrique d'un support (105) et des utilisations connexes. Le module de capteur (1) selon l'invention est caractérisé par une combinaison de principes de mesure photoniques et non photoniques avec des revêtements sensibles aux paramètres (103) sur un substrat (100). Une pluralité de caractéristiques d'un support (105) peut être détectée à l'intérieur de grandes plages de paramètres, la méthode la plus appropriée pouvant être utilisée pour le paramètre correspondant, au moins en ce qui concerne la précision, la stabilité à long terme, la résolution, la capacité de reproduction, la consommation d'énergie, les coûts de fabrication et les besoins en espace.