METHODS FOR TESTING OR ADJUSTING A CHARGED-PARTICLE DETECTOR, AND RELATED DETECTION SYSTEMS

Methods for testing or adjusting a charged-particle detector are provided, A diagnostic and/or adjustment method for a charged-particle detector of an instrument includes providing, from a photon source, photons incident on the charged-particle detector. Moreover, the method includes detecting a res...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	VANGORDON, JAMES ARTHUR
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ELECTRICITY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Methods for testing or adjusting a charged-particle detector are provided, A diagnostic and/or adjustment method for a charged-particle detector of an instrument includes providing, from a photon source, photons incident on the charged-particle detector. Moreover, the method includes detecting a response by the charged-particle detector to the photons incident thereon. Related detection systems are also provided. L'invention concerne également des procédés de test ou de réglage d'un détecteur de particules chargées, un procédé de diagnostic et/ou de réglage pour un détecteur de particules chargées d'un instrument consistant à fournir, à partir d'une source de photons, des photons incidents sur le détecteur de particules chargées. De plus, le procédé comprend la détection d'une réponse par le détecteur de particules chargées aux photons incidents sur celui-ci. L'invention concerne également des systèmes de détection associés.