SYSTEM FOR TEAR ANALYSIS OF FILMS
A method and a system for analyzing a physical characteristic of a film sample are described herein. The system includes a material holder system configured to hold the film sample; and a tear analysis device configured to tear the film sample and measure a characteristic of the tear. The movable sy...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A method and a system for analyzing a physical characteristic of a film sample are described herein. The system includes a material holder system configured to hold the film sample; and a tear analysis device configured to tear the film sample and measure a characteristic of the tear. The movable system is configured to move the film sample in the material holder system to the tear analysis device.
L'invention concerne un procédé et un système d'analyse d'une caractéristique physique d'un échantillon de film. Le système comprend un système de support de matériau conçu pour supporter l'échantillon de film et un dispositif d'analyse de déchirure conçu pour déchirer l'échantillon de film et mesurer une caractéristique de la déchirure. Le système mobile est conçu pour déplacer l'échantillon de film dans le système de support de matériau vers le dispositif d'analyse de déchirure. |
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