MULTI-ARM STRUCTURED ILLUMINATION IMAGING

The disclosure provides for structured illumination microscopy (SIM) imaging systems. In one set of implementations, a SIM imaging system may be implemented as a multi-arm SIM imaging system, whereby each arm of the system includes a light emitter and a beam splitter (e.g., a transmissive diffraction grating) having a specific, fixed orientation with respect to the system's optical axis. In a second set of implementations, a SIM imaging system may be implemented as a multiple beam splitter slide SIM imaging system, where one linear motion stage is mounted with multiple beam splitters having a corresponding, fixed orientation with respect to the system's optical axis. In a third set of implementations, a SIM imaging system may be implemented as a pattern angle spatial selection SIM imaging system, whereby a fixed two-dimensional diffraction grating is used in combination with a spatial filter wheel to project one-dimensional fringe patterns on a sample. L'invention concerne des systèmes d'imagerie pour la microscopie avec un éclairage structuré (SIM). Dans un ensemble de modes de réalisation, un système d'imagerie SIM peut être mis en uvre sous la forme d'un système d'imagerie SIM à plusieurs bras, chaque bras du système comprenant un émetteur de lumière et un diviseur de faisceau (par exemple, un réseau de diffraction transmissif) ayant une orientation fixe spécifique par rapport à l'axe optique du système. Dans un deuxième ensemble de modes de réalisation, un système d'imagerie SIM peut être mis en uvre sous la forme d'un système d'imagerie SIM coulissant à diviseur de faisceau multiple, un étage à déplacement linéaire étant monté avec plusieurs diviseurs de faisceau ayant une orientation fixe correspondante par rapport à l'axe optique du système. Dans un troisième ensemble de modes de réalisation, un système d'imagerie SIM peut être mis en uvre sous la forme d'un système d'imagerie SIM à sélection spatiale d'angle de motif, un réseau de diffraction bidimensionnel fixe étant utilisé en association avec une roue porte-filtres spatiaux pour projeter des diagrammes de franges unidimensionnels sur un échantillon.