IMPROVED CHARGED PARTICLE DETECTOR

The present invention relates generally to components of scientific analytical equipment, and to complete items of analytic equipment. More particularly, the invention relates to apparatus and methods useful for detecting an ion in mass spectrometry applications. The apparatus may comprise an electr...

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Hauptverfasser: STRESAU, RICHARD, HUNTER, KEVIN, SHEILS, WAYNE
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:The present invention relates generally to components of scientific analytical equipment, and to complete items of analytic equipment. More particularly, the invention relates to apparatus and methods useful for detecting an ion in mass spectrometry applications. The apparatus may comprise an electron multiplier having a high sensitivity and low sensitivity sections, or the combination of an electron multiplier with a separately powered conversion dynode (and particularly a high energy conversion dynode), or the combination of a conversion dynode that is physically incorporated within or about an electron multiplier. La présente invention concerne d'une manière générale des composants d'appareil d'analyse scientifique, et des articles complets d'appareil d'analyse. Plus particulièrement, l'invention concerne un appareil et des procédés permettant de détecter un ion dans des applications de spectrométrie de masse. L'appareil peut comprendre un multiplicateur d'électrons comportant des sections à haute sensibilité et à faible sensibilité, ou l'association d'un multiplicateur d'électrons avec une dynode de conversion alimentée séparément (et particulièrement une dynode de conversion à haute énergie), ou l'association d'une dynode de conversion qui est incorporée physiquement dans un multiplicateur d'électrons ou autour de ce dernier.