SYSTEMS AND METHODS FOR DETERMINING AT LEAST ONE PROPERTY OF A MATERIAL

A system for determining one or more properties of one or more gases. The system comprises sensors configured to measure thermal conductivity and exothermic responses of a sample at multiple temperatures. Sensor responses to exposure to a gas sample at two or more temperatures are compensated and analyzed by a subsystem. The subsystem is configured to determine a thermal conductivity of the gas sample at each of the two or more temperatures and determine at least one component of the gas sample based at least in part on the thermal conductivity value of the sample at each of the two or more temperatures. Related systems and methods of determining one or more properties of a sample are also disclosed. La présente invention concerne un système permettant de déterminer une ou plusieurs propriétés d'un ou de plusieurs gaz. Le système comprend des capteurs configurés pour mesurer la conductivité thermique et les réponses exothermiques d'un échantillon à des températures variées. Des réponses de capteur à une exposition à un échantillon de gaz à deux températures ou plus sont compensées et analysées par un sous-système. Le sous-système est configuré pour déterminer une conductivité thermique de l'échantillon de gaz à chacune des deux températures ou plus et déterminer au moins un composant de l'échantillon de gaz sur la base, au moins en partie, de la valeur de conductivité thermique de l'échantillon à chacune des deux températures ou plus. L'invention concerne également des systèmes et des procédés associés permettant de déterminer une ou plusieurs propriétés d'un échantillon.