METHOD AND SYSTEM FOR POSITIONING SEISMIC SOURCE IN MICROSEISM MONITORING

A method and system for epicentre positioning in microseism monitoring. The method comprises: acquiring a monitoring area and each observation point in the monitoring area (S101); dividing the monitoring area into N grids according to epicentre positioning accuracy, wherein side length of a grid uni...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: LI, YANPENG, CHU, FANGDONG, LI, FEI, LIU, CONGWEI, JIN, QIHU, XU, GANG
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A method and system for epicentre positioning in microseism monitoring. The method comprises: acquiring a monitoring area and each observation point in the monitoring area (S101); dividing the monitoring area into N grids according to epicentre positioning accuracy, wherein side length of a grid unit of an i-th grid is D/2 i-1, i=1,N, and D being an initial edge length of the grid unit (S102); searching for all nodes in a first grid to acquire a node meeting a preset condition (S103); starting from i=2, determining and searching for a node meeting a first preset requirement in the i-th grid to obtain a node therein which meets the preset condition, continuing until completing search of the Nth grid, wherein a node in the Nth grid which meets the preset condition is an epicentre position (S104). Said method and system for epicentre positioning may implement high-precision positioning of a microseism epicentre and have a small number of calculations. L'invention concerne un procédé et un système de positionnement d'épicentre dans une surveillance de microséisme. Le procédé consiste : à acquérir une zone de surveillance et chaque point d'observation dans la zone de surveillance (S101) ; à diviser la zone de surveillance en N grilles en fonction d'une précision de positionnement d'épicentre, la longueur latérale d'une unité de grille d'une ième grille étant D/2 i-1, i=1,N, et D étant une longueur de bord initiale de l'unité de grille (S102) ; à rechercher tous les nuds dans une première grille afin d'acquérir un nud satisfaisant une condition prédéfinie (S103) ; en commençant à partir d'i = 2, à déterminer et à rechercher un nud satisfaisant une première exigence prédéfinie dans l'ième grille afin d'obtenir un nud correspondant qui satisfasse la condition prédéfinie, en continuant jusqu'à la fin de la recherche de la Nième grille, un nud dans la Nième grille qui satisfait la condition prédéfinie étant une position d'épicentre (S104). Ledit procédé et ledit système de positionnement d'épicentre peuvent mettre en uvre un positionnement d'un épicentre de microséisme de haute précision et possèdent un nombre réduit de calculs.