METHOD AND DEVICE FOR MEASURING FEATURES ON OR NEAR AN OBJECT

A method for measuring a feature on or near a viewed object is disclosed. The method displays an image of the object on a monitor, determines the three-dimensional coordinates of points on the surface of the object, selects one or more reference surface points from the determined points, determines...

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1. Verfasser: BENDALL, CLARK ALEXANDER
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A method for measuring a feature on or near a viewed object is disclosed. The method displays an image of the object on a monitor, determines the three-dimensional coordinates of points on the surface of the object, selects one or more reference surface points from the determined points, determines a reference surface based on the reference surface points, places measurement cursors on measurement pixels of the irnage, determines projected reference surface points associated with the measurement cursors on the reference surface, and determines the dimensions of the feature on or near the object using the three-dimensional coordinates of projected reference surface points. This rnethod enables measurement of features, such as a missing corner, on an object even where there is no three-dimensional data or low accuracy three-dimensional data available. La présente invention concerne un procédé et un dispositif de mesure des dimensions d'un élément sur ou à proximité d'un objet à l'aide d'un dispositif d'inspection vidéo. Une surface de référence est déterminée sur la base de points de surface de référence sur la surface de l'objet. Un ou plusieurs curseurs de mesure sont placés sur les pixels de mesure d'une image de l'objet. Des points de surface de référence projetés et associés aux pixels de mesure sur la surface de référence sont déterminés. Les dimensions de l'élément peuvent être déterminées en utilisant les coordonnées tridimensionnelles d'au moins un des points de surface de référence projetés.