APPARATUS FOR DETECTING DEFECT AND METHOD FOR DETECTING DEFECT USING THE SAME

The present invention relates to an apparatus for detecting a defect and a method for detecting a defect using the same, and more particularly, to an apparatus for detecting a defect and a method for detecting a defect using the same for detecting a defect inside an inspection object without destructing the inspection object. An apparatus for detecting a defect according to an embodiment of the present invention includes a first probe unit configured to transmit a signal into an inspection object and receive a signal generated inside the inspection object, a second probe unit separately installed from the first probe unit and configured to receive the signal generated inside the inspection object, and a position determining unit configured to detect a defect position inside the inspection object using the signal received by the first probe unit and the signal received by the second probe unit. La présente invention concerne un dispositif de détection de défaut et un procédé de détection de défaut l'utilisant et, plus spécifiquement, un dispositif de détection de défaut permettant de détecter un défaut dans un objet en cours d'inspection, et un procédé de détection de défaut utilisant le dispositif. Le dispositif de détection de défaut selon un mode de réalisation de la présente invention comprend : un premier ensemble sonde permettant d'émettre un signal en direction de l'intérieur d'un objet en cours d'inspection et de recevoir un signal généré à l'intérieur de l'objet en cours d'inspection; un deuxième ensemble sonde installé à distance du premier ensemble sonde et recevant un signal généré à l'intérieur de l'objet en cours d'inspection; et une unité de détermination d'emplacement permettant de déterminer l'emplacement d'un défaut dans l'objet en cours d'inspection à l'aide d'un signal recu en provenance du premier ensemble sonde et d'un signal recu en provenance du deuxième ensemble sonde.