APPARATUS AND METHODS TO DETECT SEMICONDUCTOR DEVICE DEGRADATION DUE TO RADIATION EXPOSURE

Apparatus and methods to detect degradation due to radiation exposure are described. An example method to detect circuit failure due to radiation exposure includes determining a current of a semiconductor device in an analog circuit, determining an amount of radiation to which the semiconductor device has been exposed based on the current, comparing the amount of radiation to a radiation dose threshold value, and indicating a degradation of the semiconductor device based on the comparison. L'invention concerne un appareil et des procédés pour détecter la dégradation due à une exposition à un rayonnement. Un procédé à titre d'exemple pour détecter une défaillance de circuit due à une exposition à des rayonnements consiste à déterminer un courant d'un dispositif à semi-conducteurs dans un circuit analogique, déterminer une quantité de rayonnement à laquelle le dispositif à semi-conducteurs a été exposé sur la base du courant, comparer la quantité de rayonnement à une valeur de seuil de dose de rayonnement, et indiquer une dégradation du dispositif à semi-conducteurs sur la base de la comparaison.