SYSTEMS AND METHODS OF MEASURING AND DETERMINING NOISE PARAMETERS

Systems and methods of measuring and determining noise parameters. An exemplary method measures noise data and determines element values of a device noise model for a device under test (DUT), using a test system including an impedance tuner coupled to an input of the DUT for presenting a controllable variable impedance to the DUT and a noise receiver coupled to an output of the DUT. Noise data is measured as a function of at least one measurement parameter. The measured data includes raw noise data read from the noise receiver, and is used to determine element values of the device noise model. The system may include a database of device models L'invention concerne des systèmes et des procédés de mesure et de détermination de paramètres de bruit. Un procédé donné à titre d'exemple mesure des données de bruit et détermine des valeurs d'éléments d'un modèle de bruit de dispositif pour un dispositif en cours de test (DUT), ceci en utilisant un système test comprenant un syntoniseur à impédance couplé à une entrée du DUT pour présenter une impédance variable commandée au DUT et un récepteur de bruit couplé à une sortie du DUT. Des données de bruit sont mesurées en fonction d'au moins un paramètre de mesure. Les données mesurées comprennent des données de bruit brutes lues à partir du récepteur de bruit, et sont utilisées pour déterminer des valeurs d'éléments du modèle de bruit de dispositif. Le système peut comprendre une base de données de modèles de dispositif.