METROLOGY ASSISTED PART FORMING SYSTEM AND METHOD
Systems and methods for using metrology to assist a user at a workstation to form a part into a desired contour include scanning the part to obtain scanned data indicative of an actual contour of the part. Distance errors are determined based on a comparison of the scanned data to a computer model o...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | Systems and methods for using metrology to assist a user at a workstation to form a part into a desired contour include scanning the part to obtain scanned data indicative of an actual contour of the part. Distance errors are determined based on a comparison of the scanned data to a computer model of the desired contour. A contour map of deviation is determined based on the distance errors, with the contour map of deviation indicating magnitudes of the distance errors for at least a selected set of points on the actual contour of the part. Visible indicium is projected onto the part that represents the contour map of deviation, thereby assisting the user of the workstation to identify where further modification of the actual contour is needed.
Des systèmes et des procédés dutilisation de métrologie pour aider un utilisateur au niveau dun poste de travail à former une pièce dans un contour désiré comprennent le balayage de la pièce pour obtenir des données balayées indiquant un contour réel de la pièce. Des erreurs de distance sont déterminées en fonction dune comparaison des données balayées à un modèle informatique du contour désiré. Une carte de contours de déviation est déterminée en fonction derreurs de distance, la carte de contours de déviation indiquant des ampleurs des erreurs de distance pour au moins un ensemble de points sélectionné sur le contour réel de la pièce. Une indication visible est projetée sur la pièce qui représente la carte de contours de déviation, ce qui aidera lutilisateur du poste de travail à déterminer où dautres modifications du contour réel sont nécessaires. |
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