SYSTEM FOR DETERMINING AT LEAST ONE PROPERTY OF A SHEET DIELECTRIC SAMPLE USING TERAHERTZ RADIATION

A system for determining at least one property of a sheet dielectric sample using terahertz radiation includes at least one terahertz transmitter configured to output a pulse of terahertz radiation, a terahertz receiver configured to receive at least a portion of the pulse of terahertz radiation, wherein the terahertz receiver is configured to output a measured waveform based on the terahertz radiation received by the terahertz receiver, and a control unit in communication with the terahertz receiver. Wherein the control unit is configured to choose at least one region of interest of the measured waveform, compare the at least one region of interest of the measured waveform to a model waveform, vary at least one parameter of a model waveform to minimize the difference between the model waveform and the measured waveform. L'invention concerne un système pour déterminer au moins une propriété d'un échantillon diélectrique de feuille à l'aide d'un rayonnement térahertz, qui comprend au moins un émetteur térahertz configuré pour délivrer une impulsion de rayonnement térahertz, un récepteur térahertz configuré pour recevoir au moins une partie de l'impulsion de rayonnement térahertz, le récepteur térahertz étant configuré pour délivrer une forme d'onde mesurée sur la base du rayonnement térahertz reçu par le récepteur térahertz, et une unité de commande en communication avec le récepteur térahertz. L'unité de commande est configurée pour choisir au moins une région d'intérêt de la forme d'onde mesurée, comparer l'au moins une région d'intérêt de la forme d'onde mesurée à une forme d'onde modèle, varier au moins un paramètre d'une forme d'onde modèle pour réduire à un minimum la différence entre la forme d'onde modèle et la forme d'onde mesurée.