MEASURING PARAMETERS OF A CUT GEMSTONE

Apparatus and corresponding methods for measuring a plurality of parameters of a cut gemstone while it is positioned at a single measurement location. Apparatus comprise a plurality of light sources, each configured to emit light at a different one of a plurality of emission wavelengths or ranges of wavelengths such that the emitted light illuminates at least part of the measurement location. Apparatus further comprise a sensor assembly configured to sense light at a plurality of sensing wavelengths or ranges of wavelengths for measuring the plurality of parameters. The sensed light is received at the sensor assembly from the measurement location as a result of illumination of a cut gemstone located at the measurement location. La présente invention concerne un appareil et des procédés correspondants destinés à mesurer une pluralité de paramètres d'une gemme taillée lorsqu'elle est positionnée dans un seul emplacement de mesure. L'appareil comprend une pluralité de sources de lumière, chacune conçue pour émettre de la lumière à une longueur d'onde d'émission différente parmi une pluralité de longueurs d'onde d'émission ou de plages de longueurs d'onde, de manière à ce que la lumière émise éclaire au moins une partie de l'emplacement de mesure. L'appareil comprend en outre un ensemble de capteur, conçu pour détecter la lumière à une pluralité de longueurs d'onde de détection ou de plages de longueurs d'onde afin de mesurer la pluralité de paramètres. La lumière détectée est reçue au niveau de l'ensemble de capteur à partir de l'emplacement de mesure, en conséquence de l'éclairage d'une gemme taillée située dans l'emplacement de mesure.