SYSTEM AND METHOD FOR SELF-TESTING A GROUND FAULT CIRCUIT INTERRUPTER

Self-test circuitry for testing a circuit interrupter includes an active element coupled to an operating mechanism, a first sub-circuit for temporarily disabling the active element, a second sub-circuit structured to generate a simulated ground fault condition, and a processing unit coupled to the g...

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Hauptverfasser: FERRI, VINCENT, OKERMAN, JASON, ANDERSON, ADONNA ANGELIKA
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator FERRI, VINCENT
OKERMAN, JASON
ANDERSON, ADONNA ANGELIKA
description Self-test circuitry for testing a circuit interrupter includes an active element coupled to an operating mechanism, a first sub-circuit for temporarily disabling the active element, a second sub-circuit structured to generate a simulated ground fault condition, and a processing unit coupled to the ground fault detection circuitry. The first sub-circuit and the second sub-circuit, the processing unit being structured and configured to control the first sub-circuit to temporarily disable the active element and to control the second sub-circuit to generate the simulated ground fault condition when the active element is disabled. Also, self-test circuitry that includes a sub- circuit structured to generate a simulated ground fault condition and a processing unit structured and configured to control the sub-circuit to generate the simulated ground fault condition only during a predetermined portion of a half cycle of energy passing through the circuit interrupter. Des circuits de test automatique pour la mise à lessai dun interrupteur de circuit comprennent un élément actif couplé à un mécanisme dexploitation, un premier sous-circuit pour la désactivation temporaire de lélément actif, un deuxième sous-circuit structuré pour générer une condition de défaut à la terre simulée et une unité de traitement couplée aux circuits de détection des défauts à la terre. Lunité de traitement est structurée et configurée pour contrôler le premier sous-circuit pour temporairement désactiver lélément actif et contrôler le deuxième sous-circuit pour générer la condition de défaut à la terre simulée lorsque lélément actif est désactivé. De plus, les circuits de test automatique comprennent un sous-circuit structuré pour générer une condition de défaut à la terre simulée et une unité de traitement structurée et configurée pour contrôler le sous-circuit quant à la génération de la condition simulée seulement pendant une partie prédéterminée dun demi-cycle de passage dénergie dans linterrupteur de circuit.
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The first sub-circuit and the second sub-circuit, the processing unit being structured and configured to control the first sub-circuit to temporarily disable the active element and to control the second sub-circuit to generate the simulated ground fault condition when the active element is disabled. Also, self-test circuitry that includes a sub- circuit structured to generate a simulated ground fault condition and a processing unit structured and configured to control the sub-circuit to generate the simulated ground fault condition only during a predetermined portion of a half cycle of energy passing through the circuit interrupter. Des circuits de test automatique pour la mise à lessai dun interrupteur de circuit comprennent un élément actif couplé à un mécanisme dexploitation, un premier sous-circuit pour la désactivation temporaire de lélément actif, un deuxième sous-circuit structuré pour générer une condition de défaut à la terre simulée et une unité de traitement couplée aux circuits de détection des défauts à la terre. Lunité de traitement est structurée et configurée pour contrôler le premier sous-circuit pour temporairement désactiver lélément actif et contrôler le deuxième sous-circuit pour générer la condition de défaut à la terre simulée lorsque lélément actif est désactivé. De plus, les circuits de test automatique comprennent un sous-circuit structuré pour générer une condition de défaut à la terre simulée et une unité de traitement structurée et configurée pour contrôler le sous-circuit quant à la génération de la condition simulée seulement pendant une partie prédéterminée dun demi-cycle de passage dénergie dans linterrupteur de circuit.</description><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC SWITCHES ; ELECTRICITY ; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES ; RELAYS ; SELECTORS</subject><creationdate>2023</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20230912&amp;DB=EPODOC&amp;CC=CA&amp;NR=2904738C$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20230912&amp;DB=EPODOC&amp;CC=CA&amp;NR=2904738C$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>FERRI, VINCENT</creatorcontrib><creatorcontrib>OKERMAN, JASON</creatorcontrib><creatorcontrib>ANDERSON, ADONNA ANGELIKA</creatorcontrib><title>SYSTEM AND METHOD FOR SELF-TESTING A GROUND FAULT CIRCUIT INTERRUPTER</title><description>Self-test circuitry for testing a circuit interrupter includes an active element coupled to an operating mechanism, a first sub-circuit for temporarily disabling the active element, a second sub-circuit structured to generate a simulated ground fault condition, and a processing unit coupled to the ground fault detection circuitry. 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Des circuits de test automatique pour la mise à lessai dun interrupteur de circuit comprennent un élément actif couplé à un mécanisme dexploitation, un premier sous-circuit pour la désactivation temporaire de lélément actif, un deuxième sous-circuit structuré pour générer une condition de défaut à la terre simulée et une unité de traitement couplée aux circuits de détection des défauts à la terre. Lunité de traitement est structurée et configurée pour contrôler le premier sous-circuit pour temporairement désactiver lélément actif et contrôler le deuxième sous-circuit pour générer la condition de défaut à la terre simulée lorsque lélément actif est désactivé. De plus, les circuits de test automatique comprennent un sous-circuit structuré pour générer une condition de défaut à la terre simulée et une unité de traitement structurée et configurée pour contrôler le sous-circuit quant à la génération de la condition simulée seulement pendant une partie prédéterminée dun demi-cycle de passage dénergie dans linterrupteur de circuit.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC SWITCHES</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES</subject><subject>RELAYS</subject><subject>SELECTORS</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2023</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZHANjgwOcfVVcPRzUfB1DfHwd1Fw8w9SCHb1cdMNcQ0O8fRzV3BUcA_yDwUqcHMM9QlRcPYMcg71DFHw9AtxDQoKDQCSPAysaYk5xam8UJqbQd7NNcTZQze1ID8-tbggMTk1L7Uk3tnRyNLAxNzYwtmYsAoA3cErTA</recordid><startdate>20230912</startdate><enddate>20230912</enddate><creator>FERRI, VINCENT</creator><creator>OKERMAN, JASON</creator><creator>ANDERSON, ADONNA ANGELIKA</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20230912</creationdate><title>SYSTEM AND METHOD FOR SELF-TESTING A GROUND FAULT CIRCUIT INTERRUPTER</title><author>FERRI, VINCENT ; OKERMAN, JASON ; ANDERSON, ADONNA ANGELIKA</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_CA2904738C3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2023</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC SWITCHES</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES</topic><topic>RELAYS</topic><topic>SELECTORS</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>FERRI, VINCENT</creatorcontrib><creatorcontrib>OKERMAN, JASON</creatorcontrib><creatorcontrib>ANDERSON, ADONNA ANGELIKA</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>FERRI, VINCENT</au><au>OKERMAN, JASON</au><au>ANDERSON, ADONNA ANGELIKA</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SYSTEM AND METHOD FOR SELF-TESTING A GROUND FAULT CIRCUIT INTERRUPTER</title><date>2023-09-12</date><risdate>2023</risdate><abstract>Self-test circuitry for testing a circuit interrupter includes an active element coupled to an operating mechanism, a first sub-circuit for temporarily disabling the active element, a second sub-circuit structured to generate a simulated ground fault condition, and a processing unit coupled to the ground fault detection circuitry. The first sub-circuit and the second sub-circuit, the processing unit being structured and configured to control the first sub-circuit to temporarily disable the active element and to control the second sub-circuit to generate the simulated ground fault condition when the active element is disabled. Also, self-test circuitry that includes a sub- circuit structured to generate a simulated ground fault condition and a processing unit structured and configured to control the sub-circuit to generate the simulated ground fault condition only during a predetermined portion of a half cycle of energy passing through the circuit interrupter. Des circuits de test automatique pour la mise à lessai dun interrupteur de circuit comprennent un élément actif couplé à un mécanisme dexploitation, un premier sous-circuit pour la désactivation temporaire de lélément actif, un deuxième sous-circuit structuré pour générer une condition de défaut à la terre simulée et une unité de traitement couplée aux circuits de détection des défauts à la terre. Lunité de traitement est structurée et configurée pour contrôler le premier sous-circuit pour temporairement désactiver lélément actif et contrôler le deuxième sous-circuit pour générer la condition de défaut à la terre simulée lorsque lélément actif est désactivé. De plus, les circuits de test automatique comprennent un sous-circuit structuré pour générer une condition de défaut à la terre simulée et une unité de traitement structurée et configurée pour contrôler le sous-circuit quant à la génération de la condition simulée seulement pendant une partie prédéterminée dun demi-cycle de passage dénergie dans linterrupteur de circuit.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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