SYSTEM AND METHOD FOR SELF-TESTING A GROUND FAULT CIRCUIT INTERRUPTER

Self-test circuitry for testing a circuit interrupter includes an active element coupled to an operating mechanism, a first sub-circuit for temporarily disabling the active element, a second sub-circuit structured to generate a simulated ground fault condition, and a processing unit coupled to the g...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: FERRI, VINCENT, OKERMAN, JASON, ANDERSON, ADONNA ANGELIKA
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Self-test circuitry for testing a circuit interrupter includes an active element coupled to an operating mechanism, a first sub-circuit for temporarily disabling the active element, a second sub-circuit structured to generate a simulated ground fault condition, and a processing unit coupled to the ground fault detection circuitry. The first sub-circuit and the second sub-circuit, the processing unit being structured and configured to control the first sub-circuit to temporarily disable the active element and to control the second sub-circuit to generate the simulated ground fault condition when the active element is disabled. Also, self-test circuitry that includes a sub- circuit structured to generate a simulated ground fault condition and a processing unit structured and configured to control the sub-circuit to generate the simulated ground fault condition only during a predetermined portion of a half cycle of energy passing through the circuit interrupter. Des circuits de test automatique pour la mise à lessai dun interrupteur de circuit comprennent un élément actif couplé à un mécanisme dexploitation, un premier sous-circuit pour la désactivation temporaire de lélément actif, un deuxième sous-circuit structuré pour générer une condition de défaut à la terre simulée et une unité de traitement couplée aux circuits de détection des défauts à la terre. Lunité de traitement est structurée et configurée pour contrôler le premier sous-circuit pour temporairement désactiver lélément actif et contrôler le deuxième sous-circuit pour générer la condition de défaut à la terre simulée lorsque lélément actif est désactivé. De plus, les circuits de test automatique comprennent un sous-circuit structuré pour générer une condition de défaut à la terre simulée et une unité de traitement structurée et configurée pour contrôler le sous-circuit quant à la génération de la condition simulée seulement pendant une partie prédéterminée dun demi-cycle de passage dénergie dans linterrupteur de circuit.