SYSTEM AND METHOD FOR SELF-TESTING A GROUND FAULT CIRCUIT INTERRUPTER
Self-test circuitry for testing a circuit interrupter includes an active element coupled to an operating mechanism, a first sub-circuit for temporarily disabling the active element, a second sub-circuit structured to generate a simulated ground fault condition, and a processing unit coupled to the g...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | Self-test circuitry for testing a circuit interrupter includes an active element coupled to an operating mechanism, a first sub-circuit for temporarily disabling the active element, a second sub-circuit structured to generate a simulated ground fault condition, and a processing unit coupled to the ground fault detection circuitry. The first sub-circuit and the second sub-circuit, the processing unit being structured and configured to control the first sub-circuit to temporarily disable the active element and to control the second sub-circuit to generate the simulated ground fault condition when the active element is disabled. Also, self-test circuitry that includes a sub- circuit structured to generate a simulated ground fault condition and a processing unit structured and configured to control the sub-circuit to generate the simulated ground fault condition only during a predetermined portion of a half cycle of energy passing through the circuit interrupter.
Des circuits de test automatique pour la mise à lessai dun interrupteur de circuit comprennent un élément actif couplé à un mécanisme dexploitation, un premier sous-circuit pour la désactivation temporaire de lélément actif, un deuxième sous-circuit structuré pour générer une condition de défaut à la terre simulée et une unité de traitement couplée aux circuits de détection des défauts à la terre. Lunité de traitement est structurée et configurée pour contrôler le premier sous-circuit pour temporairement désactiver lélément actif et contrôler le deuxième sous-circuit pour générer la condition de défaut à la terre simulée lorsque lélément actif est désactivé. De plus, les circuits de test automatique comprennent un sous-circuit structuré pour générer une condition de défaut à la terre simulée et une unité de traitement structurée et configurée pour contrôler le sous-circuit quant à la génération de la condition simulée seulement pendant une partie prédéterminée dun demi-cycle de passage dénergie dans linterrupteur de circuit. |
---|