METHOD AND DEVICE FOR IMPROVING THE SAFT ANALYSIS WHEN MEASURING IRREGULARITIES
The invention relates to a method and to a corresponding device in which irregularities regarding each detected measurement position within a measurement surface are detected using a local measurement density. Each echo signal received in response to each detected measurement position is then weight...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | The invention relates to a method and to a corresponding device in which irregularities regarding each detected measurement position within a measurement surface are detected using a local measurement density. Each echo signal received in response to each detected measurement position is then weighted in order to generate an image using a data processing device such that the irregularities are adjusted.
L'invention concerne un procédé et un dispositif correspondant permettant, au moyen d'une mesure de densité locale, de détecter des irrégularités des différentes positions de mesure (M) détectées à l'intérieur d'une surface mesurée (11). Ensuite, chaque signal d'écho reçu pour les différentes positions de mesure (M) détectées est pondéré de manière à compenser les irrégularités afin de générer une représentation (5) au moyen d'un système de traitement des données (7). |
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