IMAGING APPARATUS
An apparatus for imaging structural features below the surface of an object, comprising: an analysis unit configured to gather information about structural features located at different depths below the surface of the object by transmitting one or more sound pulses at the object and detecting reflec...
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Hauptverfasser: | , |
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | An apparatus for imaging structural features below the surface of an object, comprising: an analysis unit configured to gather information about structural features located at different depths below the surface of the object by transmitting one or more sound pulses at the object and detecting reflections of those sound pulses from the object; and an image generation unit configured to generate: a first image in dependence on a first subset of the detected reflections, the first image representing an overview in which one or more of the structural features may be obscured by another of the structural features; and a second image in dependence on a second subset of the detected reflections, the second image representing a slice through the first image whereby the obscured structural features can be uncovered.
Un appareil dimagerie de caractéristiques structurelles en dessous de la surface dun objet comprend : une unité danalyse configurée pour recueillir des informations concernant des caractéristiques structurelles situées à différentes profondeurs sous la surface de lobjet par transmission dune ou plusieurs impulsions sonores au niveau de lobjet et détecter des réflexions de ces impulsions sonores à partir de lobjet; et une unité de génération dimage configurée pour générer : une première image en fonction dun premier sous-ensemble des réflexions détectées, la première image représentant une vue densemble dans laquelle une ou plusieurs des caractéristiques structurales peuvent être obscurcies par une autre des caractéristiques structurales; et une seconde image en fonction dun second sous-ensemble des réflexions détectées, la seconde image représentant une tranche à travers la première image, les caractéristiques structurelles masquées pouvant être découvertes. |
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