DIRECT SAMPLE ANALYSIS ION SOURCE
A Direct Sample Analysis (DSA) ion source system operating at essentially atmospheric pressure is configured to facilitate the ionization, or desorption and ionization, of sample species from a wide variety of gaseous, liquid, and/or solid samples, for chemical analysis by mass spectrometry or other...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A Direct Sample Analysis (DSA) ion source system operating at essentially atmospheric pressure is configured to facilitate the ionization, or desorption and ionization, of sample species from a wide variety of gaseous, liquid, and/or solid samples, for chemical analysis by mass spectrometry or other gas phase ion detectors. The DSA system includes one or more means of ionizing samples and includes a sealed enclosure which provides protection from high voltages and hazardous vapors, and in which the local background gas environment may be monitored and well-controlled. The DSA system is configured to accommodate single or multiple samples at any one time, and provide external control of individual sample positioning, sample conditioning, sample heating, positional sensing, and temperature measurement.
L'invention concerne un système de source d'ions d'analyse directe d'échantillons (DSA) opérant à pression essentiellement atmosphérique, qui est conçu pour faciliter l'ionisation, ou la désorption et l'ionisation, d'espèces échantillons à partir d'une large variété d'échantillons gazeux, liquides et/ou solides, pour analyse chimique par spéctrométrie de masse ou autres détecteurs d'ions en phase gazeuse. Le système DSA comprend un ou plusieurs moyens d'ionisation d'échantillons et comprend une enceinte scellée qui fournit une protection vis-à-vis des tensions élevées et de vapeurs dangereuses et dans laquelle l'environnement local de gaz d'arrière-plan peut être surveillé et bien commandé. Le système DSA est conçu pour recevoir des échantillons simples ou multiples à tout moment et fournir une commande externe de positionnement d'échantillon individuel, de conditionnement d'échantillon, de chauffage d'échantillon, de détection de position et de mesure de température. |
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