METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING HARDENED SURFACE LAYER

The following are provided: correction-curve creation steps (S2, S3, and S4) in which two samples from each of a plurality of test sets having different carburizing depths changed stepwise are prepared, the depth of a surface-hardened layer in one sample from each test set is measured by means of a destructive test, the propagation time of at least the first peak of the first wave of a signal waveform obtained from each of the other samples by means of a non-destructive test is measured, and a correction curve is created on the basis of the depths of the surface-hardened layers and the propagation times; a waveform measurement step (S5) in which a signal waveform is obtained from a target sample, which is the sample to be measured; a propagation-time acquisition step (S6) in which the propagation time of at least the first peak of the first wave of the obtained waveform is acquired; and a hardened-layer-depth estimation step (S7) in which the depth of a surface-hardened layer in the target sample is computed on the basis of the acquired propagation time, using the correction curve. L'invention concerne : des étapes de création de courbe de correction (S2, S3, S4) dans lesquels deux échantillons de chaque élément d'une pluralité d'ensembles d'essai dont les différentes profondeurs de cémentation sont modifiées par étapes sont préparés, la profondeur d'une couche durcie en surface dans un échantillon de chaque ensemble d'essai est mesurée au moyen d'un essai destructif, le temps de propagation d'au moins le premier pic de la première onde d'une forme d'onde de signal obtenue de chacun des autres échantillons au moyen d'un essai non destructif est mesuré, et une courbe de correction est crée sur la base des profondeurs des couches durcies en surface et des temps de propagation; une étape de mesure de forme d'onde (S5) dans laquelle une forme d'onde de signal est obtenue à partir d'un échantillon cible, qui est l'échantillon à mesurer; une étape d'acquisition de temps de propagation (S6) dans laquelle le temps de propagation d'au moins le premier pic de la première onde de la forme d'onde obtenue est acquis; et une étape d'estimation de la profondeur de couche durcie (S7) dans laquelle la profondeur d'une couche durcie en surface dans l'échantillon cible est calculé sur la base du temps de propagation acquis en utilisant la courbe de correction.