METHODS AND SYSTEMS FOR MONITORING OPERATION OF EQUIPMENT

A condition assessment system for use in monitoring the operation of at least one of a plurality of units included within a fleet of substantially similar units is described. The system includes an input device configured to receive a selection of at least one source of data related to the operation...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: TACKETT, CHARLES EDGAR, HAYNES, LEON ERICSON
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A condition assessment system for use in monitoring the operation of at least one of a plurality of units included within a fleet of substantially similar units is described. The system includes an input device configured to receive a selection of at least one source of data related to the operation of at least one of the plurality of units. The system also includes at least one sensor associated with the at least one source of data and configured to sense data related to the operation of at least one of the plurality of units. The system also includes a condition assessment device configured to receive data from the at least one sensor, sample data associated with at least one data parameter from the received data, and generate a baseline parametric curve from the data associated with the at least one sampled data parameter. La présente invention concerne un système dévaluation détat destiné à être utilisé pour surveiller le fonctionnement dau moins une unité parmi une pluralité dunités incluses dans une flotte dunités sensiblement similaires. Le système comprend un dispositif dentrée configuré pour recevoir une sélection dau moins une source de données liée au fonctionnement dau moins une unité de la pluralité dunités. Le système comprend également au moins un capteur associé à au moins une source de données et configuré pour détecter des données liées au fonctionnement dau moins une unité de la pluralité dunités. Le système comprend également un dispositif dévaluation des conditions configuré pour recevoir des données dau moins un capteur, des données déchantillon associées à au moins un paramètre de données des données reçues et générer une courbe paramétrique de base à partir des données associées à au moins un paramètre de données échantillonnées.