SYSTEM AND METHOD FOR DETERMINING QUALITY OF CALIBRATION PARAMETERS FOR A MAGNETOMETER
A method and system are provided for calibrating a magnetometer. The method comprises applying at least one first test to a new set of calibration parameters; accepting the new set of calibration parameters as an active set of calibration parameters when the new calibration parameters pass the at le...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | A method and system are provided for calibrating a magnetometer. The method comprises applying at least one first test to a new set of calibration parameters; accepting the new set of calibration parameters as an active set of calibration parameters when the new calibration parameters pass the at least one first test; applying the active set of calibration parameters to a plurality of magnetometer readings to obtain a plurality of values; applying at least one second test to the plurality of values; and calculating a quality measure for the active set of calibration parameters based on an outcome of the at least one second test.
Une méthode et un système sont fournis pour l'étalonnage d'un magnétomètre. La méthode comprend la mise en uvre d'un premier test sur un nouvel ensemble de paramètres d'étalonnage; l'acceptation du nouvel ensemble de paramètres d'étalonnage comme ensemble actif de paramètres d'étalonnage lorsque les nouveaux paramètres d'étalonnage passent au moins le premier test; la mise en uvre de l'ensemble actif de paramètres d'étalonnage à une pluralité de lectures de magnétomètre pour obtenir une pluralité de valeurs; la mise en uvre d'au moins un deuxième test sur la pluralité de valeurs et le calcul d'une mesure de qualité pour l'ensemble actif des paramètres d'étalonnage en fonction d'un résultat du au moins deuxième test. |
---|