ESTIMATING AN ATTRIBUTE VALUE USING SPATIAL INTERPOLATION AND MASKING ZONES

Aspects of the present invention are directed at estimating the value of an attribute at a specified geographic location. In one embodiment, a method is provided that estimates the elevation at a principal point using LiDAR data that was collected from spatially related secondary points. More specif...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: WELTY, JEFFREY J
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Aspects of the present invention are directed at estimating the value of an attribute at a specified geographic location. In one embodiment, a method is provided that estimates the elevation at a principal point using LiDAR data that was collected from spatially related secondary points. More specifically, the method includes identifying secondary points where sample attribute data was obtained that are within a predetermined distance to the principal point where the attribute is being estimated. A secondary point may be selected and allocated a masking zone and a determination made regarding whether one or more distant secondary points are within the area of the masking zone. In this regard, more distant secondary points that are inside a masking zone may be assigned less relevance when estimating the value of the attribute. L'invention concerne l'estimation de la valeur d'un attribut au niveau d'un emplacement géographique spécifié. Un mode de réalisation de la présente invention porte sur un procédé qui estime l'élévation au niveau d'un point principal en utilisant des données LiDAR qui ont été collectées à partir de points secondaires liés spatialement. Plus spécifiquement, le procédé concerne l'identification de points secondaires où des données d'attribut d'échantillon qui sont sur une distance prédéterminée jusqu'au point principal où l'attribut est estimé ont été obtenues. Un point secondaire peut être sélectionné et une zone de masque peut lui être attribuée, et on détermine si un ou plusieurs points secondaires distants sont dans les limites de la zone de masque. À cet égard, moins d'intérêt peut être accordé à des points secondaires plus distants qui sont à l'intérieur d'une zone de masque lors de l'estimation de la valeur de l'attribut.