BUILT-IN TEST SCHEME FOR A JITTER TOLERANCE TEST OF A CLOCK AND DATA RECOVERY UNIT

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	GERSON, BRIAN DONALD, DALMIA, KAMAL, LAPADAT, CURTIS, IVANOV, ANDRE
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE ELECTRICITY MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHICCOMMUNICATION
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