mÉtodo de detecÇço de presenÇa por comparaÇço da caracterÍstica espectral
MÉTODO DE DETECÇçO DE PRESENÇA POR COMPARAÇçO DA CARACTERÍSTICA ESPECTRAL. Constituído por um canhão de luz (1) que bombardeia uma janela de quartzo (2) de onde os raios (3) são dirigidos para uma testemunha (4), sendo que logo após os raios são coletados pelo coletor de luz (5) integralizado ao pas...
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| description | MÉTODO DE DETECÇçO DE PRESENÇA POR COMPARAÇçO DA CARACTERÍSTICA ESPECTRAL. Constituído por um canhão de luz (1) que bombardeia uma janela de quartzo (2) de onde os raios (3) são dirigidos para uma testemunha (4), sendo que logo após os raios são coletados pelo coletor de luz (5) integralizado ao passador de vácuo (6) e espectômetro (7), sendo que a testemunha (4) encontra-se dentro de uma calota (8) provida de um monitor de cristal (9) e dentro de uma câmara (10), a qual contém um carrossel de cadinhos (11) sobre um feixe de elétrons (12), o qual identifica o momento no qual o componente óptico, quando em movimento relativo, passa por um feixe de luz, não aplicado de modo permanente ao componente, podendo ser empregado em qualquer sistema que utiliza luz como meio de monitoramento do processo de deposição de filmes finos. Pode ser utilizado como sistema de detecção de posição de qualquer tipo de objeto, sendo ele um componente para aplicação em óptica ou não. Pode ainda ser utilizado como sistema de identificação de qualquer tipo de objeto, sendo ele um componente para aplicação em óptica ou não. |
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Constituído por um canhão de luz (1) que bombardeia uma janela de quartzo (2) de onde os raios (3) são dirigidos para uma testemunha (4), sendo que logo após os raios são coletados pelo coletor de luz (5) integralizado ao passador de vácuo (6) e espectômetro (7), sendo que a testemunha (4) encontra-se dentro de uma calota (8) provida de um monitor de cristal (9) e dentro de uma câmara (10), a qual contém um carrossel de cadinhos (11) sobre um feixe de elétrons (12), o qual identifica o momento no qual o componente óptico, quando em movimento relativo, passa por um feixe de luz, não aplicado de modo permanente ao componente, podendo ser empregado em qualquer sistema que utiliza luz como meio de monitoramento do processo de deposição de filmes finos. Pode ser utilizado como sistema de detecção de posição de qualquer tipo de objeto, sendo ele um componente para aplicação em óptica ou não. Pode ainda ser utilizado como sistema de identificação de qualquer tipo de objeto, sendo ele um componente para aplicação em óptica ou não.</description><language>por</language><subject>CHEMICAL SURFACE TREATMENT ; CHEMISTRY ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL ; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL ; COATING METALLIC MATERIAL ; CONTROLLING ; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL ; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL ; MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; METALLURGY ; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS ; OPTICS ; PHYSICS ; REGULATING ; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION ; SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES ; TESTING</subject><creationdate>2013</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20130521&DB=EPODOC&CC=BR&NR=PI1100296A2$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20130521&DB=EPODOC&CC=BR&NR=PI1100296A2$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>ANDRE LUIS MARTINS BETTINI</creatorcontrib><creatorcontrib>MARCELO CERVILIERI CAVALCANTE</creatorcontrib><creatorcontrib>MARIO ANTONIO STEFANI</creatorcontrib><creatorcontrib>NELSON MAURICI ANTONIO</creatorcontrib><title>mÉtodo de detecÇço de presenÇa por comparaÇço da caracterÍstica espectral</title><description>MÉTODO DE DETECÇçO DE PRESENÇA POR COMPARAÇçO DA CARACTERÍSTICA ESPECTRAL. Constituído por um canhão de luz (1) que bombardeia uma janela de quartzo (2) de onde os raios (3) são dirigidos para uma testemunha (4), sendo que logo após os raios são coletados pelo coletor de luz (5) integralizado ao passador de vácuo (6) e espectômetro (7), sendo que a testemunha (4) encontra-se dentro de uma calota (8) provida de um monitor de cristal (9) e dentro de uma câmara (10), a qual contém um carrossel de cadinhos (11) sobre um feixe de elétrons (12), o qual identifica o momento no qual o componente óptico, quando em movimento relativo, passa por um feixe de luz, não aplicado de modo permanente ao componente, podendo ser empregado em qualquer sistema que utiliza luz como meio de monitoramento do processo de deposição de filmes finos. Pode ser utilizado como sistema de detecção de posição de qualquer tipo de objeto, sendo ele um componente para aplicação em óptica ou não. Pode ainda ser utilizado como sistema de identificação de qualquer tipo de objeto, sendo ele um componente para aplicação em óptica ou não.</description><subject>CHEMICAL SURFACE TREATMENT</subject><subject>CHEMISTRY</subject><subject>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</subject><subject>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</subject><subject>COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL</subject><subject>COATING METALLIC MATERIAL</subject><subject>CONTROLLING</subject><subject>DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL</subject><subject>INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>METALLURGY</subject><subject>OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS</subject><subject>OPTICS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>REGULATING</subject><subject>SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</subject><subject>SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2013</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZAjIPdxZkp-Sr5CSCkQlqcmH2w8vB_MKilKLU_MOtycqFOQXKSTn5xYkFiVCZRMVkoGc5JLUosO9xSWZyYkKqcUFqcklRYk5PAysaYk5xam8UJqbQcnNNcTZQze1ID8eqCoxOTUvtSTeKSjA09DQwMDI0szRyJgoRQAgRDwE</recordid><startdate>20130521</startdate><enddate>20130521</enddate><creator>ANDRE LUIS MARTINS BETTINI</creator><creator>MARCELO CERVILIERI CAVALCANTE</creator><creator>MARIO ANTONIO STEFANI</creator><creator>NELSON MAURICI ANTONIO</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20130521</creationdate><title>mÉtodo de detecÇço de presenÇa por comparaÇço da caracterÍstica espectral</title><author>ANDRE LUIS MARTINS BETTINI ; MARCELO CERVILIERI CAVALCANTE ; MARIO ANTONIO STEFANI ; NELSON MAURICI ANTONIO</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_BRPI1100296A23</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>por</language><creationdate>2013</creationdate><topic>CHEMICAL SURFACE TREATMENT</topic><topic>CHEMISTRY</topic><topic>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATIONOR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</topic><topic>COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY IONIMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL</topic><topic>COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL</topic><topic>COATING METALLIC MATERIAL</topic><topic>CONTROLLING</topic><topic>DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL</topic><topic>INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION INGENERAL</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>METALLURGY</topic><topic>OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS</topic><topic>OPTICS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>REGULATING</topic><topic>SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THESURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION</topic><topic>SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>ANDRE LUIS MARTINS BETTINI</creatorcontrib><creatorcontrib>MARCELO CERVILIERI CAVALCANTE</creatorcontrib><creatorcontrib>MARIO ANTONIO STEFANI</creatorcontrib><creatorcontrib>NELSON MAURICI ANTONIO</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>ANDRE LUIS MARTINS BETTINI</au><au>MARCELO CERVILIERI CAVALCANTE</au><au>MARIO ANTONIO STEFANI</au><au>NELSON MAURICI ANTONIO</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>mÉtodo de detecÇço de presenÇa por comparaÇço da caracterÍstica espectral</title><date>2013-05-21</date><risdate>2013</risdate><abstract>MÉTODO DE DETECÇçO DE PRESENÇA POR COMPARAÇçO DA CARACTERÍSTICA ESPECTRAL. Constituído por um canhão de luz (1) que bombardeia uma janela de quartzo (2) de onde os raios (3) são dirigidos para uma testemunha (4), sendo que logo após os raios são coletados pelo coletor de luz (5) integralizado ao passador de vácuo (6) e espectômetro (7), sendo que a testemunha (4) encontra-se dentro de uma calota (8) provida de um monitor de cristal (9) e dentro de uma câmara (10), a qual contém um carrossel de cadinhos (11) sobre um feixe de elétrons (12), o qual identifica o momento no qual o componente óptico, quando em movimento relativo, passa por um feixe de luz, não aplicado de modo permanente ao componente, podendo ser empregado em qualquer sistema que utiliza luz como meio de monitoramento do processo de deposição de filmes finos. Pode ser utilizado como sistema de detecção de posição de qualquer tipo de objeto, sendo ele um componente para aplicação em óptica ou não. 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