mÉtodo de detecÇço de presenÇa por comparaÇço da caracterÍstica espectral

MÉTODO DE DETECÇçO DE PRESENÇA POR COMPARAÇçO DA CARACTERÍSTICA ESPECTRAL. Constituído por um canhão de luz (1) que bombardeia uma janela de quartzo (2) de onde os raios (3) são dirigidos para uma testemunha (4), sendo que logo após os raios são coletados pelo coletor de luz (5) integralizado ao pas...

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Hauptverfasser: ANDRE LUIS MARTINS BETTINI, MARCELO CERVILIERI CAVALCANTE, MARIO ANTONIO STEFANI, NELSON MAURICI ANTONIO
Format: Patent
Sprache:por
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Zusammenfassung:MÉTODO DE DETECÇçO DE PRESENÇA POR COMPARAÇçO DA CARACTERÍSTICA ESPECTRAL. Constituído por um canhão de luz (1) que bombardeia uma janela de quartzo (2) de onde os raios (3) são dirigidos para uma testemunha (4), sendo que logo após os raios são coletados pelo coletor de luz (5) integralizado ao passador de vácuo (6) e espectômetro (7), sendo que a testemunha (4) encontra-se dentro de uma calota (8) provida de um monitor de cristal (9) e dentro de uma câmara (10), a qual contém um carrossel de cadinhos (11) sobre um feixe de elétrons (12), o qual identifica o momento no qual o componente óptico, quando em movimento relativo, passa por um feixe de luz, não aplicado de modo permanente ao componente, podendo ser empregado em qualquer sistema que utiliza luz como meio de monitoramento do processo de deposição de filmes finos. Pode ser utilizado como sistema de detecção de posição de qualquer tipo de objeto, sendo ele um componente para aplicação em óptica ou não. Pode ainda ser utilizado como sistema de identificação de qualquer tipo de objeto, sendo ele um componente para aplicação em óptica ou não.