métodos e sistema para a inspeção de componentes fabricados

"método e sistemas para a inspeção de componentes fabricados". são fornecidos métodos e dispositivos para a inspeção de um componente (29). o método compreende receber (408) uma pluralidade de dados de pontos os quais definem o formato do componente, ajustar (410) os dados de pontos recebi...

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Hauptverfasser: Melvin Howard Wilkins, Francis Howard Little, Douglas Edward Ingram
Format: Patent
Sprache:por
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Zusammenfassung:"método e sistemas para a inspeção de componentes fabricados". são fornecidos métodos e dispositivos para a inspeção de um componente (29). o método compreende receber (408) uma pluralidade de dados de pontos os quais definem o formato do componente, ajustar (410) os dados de pontos recebidos a uma curva a qual define um formato modelo predeterminado, e comparar (412) os dados de pontos recebidos com a curva que define o formato modelo predeterminado para determinar o raio de abertura do componente. Methods and apparatus for inspecting a component are provided. The method includes receiving a plurality of data points that define a shape of the component, fitting the received data points to a curve that defines a predetermined model shape, and comparing the received data points to the curve defining the predetermined model shape to determine a break radius of the component.