método de quantificação de alumínio em sílica por espalhamento de raios-x aliado a quimiometria

"método de quantificação de alumínio em sílica por espalhamento de raios-x aliado a quimiometria". compreende um método de quantificação de alumínio em matrizes de sílica, utilizando-se equipamentos convencionais de edxrf, considerando, além da emissão de raios-x característica do elemento...

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Hauptverfasser: Karen Goraieb, Kenneth Elmer Collins, Maria Izabel Maretti Silveira Bueno
Format: Patent
Sprache:por
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creator Karen Goraieb
Kenneth Elmer Collins
Maria Izabel Maretti Silveira Bueno
description "método de quantificação de alumínio em sílica por espalhamento de raios-x aliado a quimiometria". compreende um método de quantificação de alumínio em matrizes de sílica, utilizando-se equipamentos convencionais de edxrf, considerando, além da emissão de raios-x característica do elemento a1, também picos de espalhamento da fonte de raios-x, e tal método apresenta com vantagens o fato de não ser destrutivo, pois requer mínima ou nenhuma preparação da amostra; apresentar simplicidade e rapidez de análises, com baixo custo, principalmente operacional; apresentar alta eficiência em se obter resultados, não gerar resíduos e, pode ser empregado como método de rotina.
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apresentar simplicidade e rapidez de análises, com baixo custo, principalmente operacional; apresentar alta eficiência em se obter resultados, não gerar resíduos e, pode ser empregado como método de rotina.</description><language>por</language><subject>BEER ; BIOCHEMISTRY ; CHEMISTRY ; COMPOSITIONS OR TEST PAPERS THEREFOR ; CONDITION-RESPONSIVE CONTROL IN MICROBIOLOGICAL ORENZYMOLOGICAL PROCESSES ; ENZYMOLOGY ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; MEASURING OR TESTING PROCESSES INVOLVING ENZYMES, NUCLEICACIDS OR MICROORGANISMS ; METALLURGY ; MICROBIOLOGY ; MUTATION OR GENETIC ENGINEERING ; PHYSICS ; PROCESSES OF PREPARING SUCH COMPOSITIONS ; SPIRITS ; TESTING ; VINEGAR ; WINE</subject><creationdate>2018</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20180214&amp;DB=EPODOC&amp;CC=BR&amp;NR=PI0502861B1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25543,76292</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20180214&amp;DB=EPODOC&amp;CC=BR&amp;NR=PI0502861B1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Karen Goraieb</creatorcontrib><creatorcontrib>Kenneth Elmer Collins</creatorcontrib><creatorcontrib>Maria Izabel Maretti Silveira Bueno</creatorcontrib><title>método de quantificação de alumínio em sílica por espalhamento de raios-x aliado a quimiometria</title><description>"método de quantificação de alumínio em sílica por espalhamento de raios-x aliado a quimiometria". compreende um método de quantificação de alumínio em matrizes de sílica, utilizando-se equipamentos convencionais de edxrf, considerando, além da emissão de raios-x característica do elemento a1, também picos de espalhamento da fonte de raios-x, e tal método apresenta com vantagens o fato de não ser destrutivo, pois requer mínima ou nenhuma preparação da amostra; 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