método de quantificação de alumínio em sílica por espalhamento de raios-x aliado a quimiometria

"método de quantificação de alumínio em sílica por espalhamento de raios-x aliado a quimiometria". compreende um método de quantificação de alumínio em matrizes de sílica, utilizando-se equipamentos convencionais de edxrf, considerando, além da emissão de raios-x característica do elemento...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Karen Goraieb, Kenneth Elmer Collins, Maria Izabel Maretti Silveira Bueno
Format:	Patent
Sprache:	por
Schlagworte:	BEER BIOCHEMISTRY CHEMISTRY COMPOSITIONS OR TEST PAPERS THEREFOR CONDITION-RESPONSIVE CONTROL IN MICROBIOLOGICAL ORENZYMOLOGICAL PROCESSES ENZYMOLOGY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING MEASURING OR TESTING PROCESSES INVOLVING ENZYMES, NUCLEICACIDS OR MICROORGANISMS METALLURGY MICROBIOLOGY MUTATION OR GENETIC ENGINEERING PHYSICS PROCESSES OF PREPARING SUCH COMPOSITIONS SPIRITS TESTING VINEGAR WINE
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Beschreibung
Zusammenfassung:	"método de quantificação de alumínio em sílica por espalhamento de raios-x aliado a quimiometria". compreende um método de quantificação de alumínio em matrizes de sílica, utilizando-se equipamentos convencionais de edxrf, considerando, além da emissão de raios-x característica do elemento a1, também picos de espalhamento da fonte de raios-x, e tal método apresenta com vantagens o fato de não ser destrutivo, pois requer mínima ou nenhuma preparação da amostra; apresentar simplicidade e rapidez de análises, com baixo custo, principalmente operacional; apresentar alta eficiência em se obter resultados, não gerar resíduos e, pode ser empregado como método de rotina.