SISTEMAS E MÉTODOS PARA REALIZAR ANÁLISE MICROSCÓPICA DE UMA AMOSTRA
SISTEMAS E MÉTODOS PARA REALIZAR ANÁLISE MICROSCÓPICA DE UMA AMOSTRA. A presente descrição refere-se a um sistema (102) para realizar análise microscópica de uma amostra (S), compreendendo um canal de análise microscópica (140) e um canal de visada (150). O canal de análise microscópica compreende e...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | SISTEMAS E MÉTODOS PARA REALIZAR ANÁLISE MICROSCÓPICA DE UMA AMOSTRA. A presente descrição refere-se a um sistema (102) para realizar análise microscópica de uma amostra (S), compreendendo um canal de análise microscópica (140) e um canal de visada (150). O canal de análise microscópica compreende em particular: um canal de iluminação (120) configurado para iluminar um dado campo de visão da amostra através de uma objetiva de microscópio (110) de abertura numérica nominal dada; e um canal de detecção (130) que compreende dita objetiva de microscópio, e que é configurado para detectar, no dito campo de visão, e com um padrão de detecção, um feixe luminoso emitido pela amostra em resposta à dita iluminação da amostra. O canal de visada compreende: dita objetiva de microscópio; um dispositivo (158) para alcançar iluminação de campo completo da amostra; um detector bidimensional (155); e um ou mais elementos geradores de imagem formando, com dita objetiva de microscópio (110), um dispositivo de geração de imagem de campo completo configurado para formar uma imagem de visada em reflexão de superfície de um campo efetivo dado da amostra englobando dito campo de visão. O sistema (102) compreende adicionalmente um módulo de exibição (170) configurado para exibir uma imagem de visada e, na dita imagem de visada, um elemento de imagem indicando a posição do dito padrão de detecção.
The present description relates to a system for microscopic analysis of a sample that includes a microscopic analysis path and a sighting path. The microscopic analysis path notably includes an illumination path that illuminates the sample through a microscope objective of given nominal numerical aperture in a given field of view and a detection path including the microscope objective, and that detects in the field of view and according to a detection pattern, a light beam emitted by the sample in response to the illumination of the sample. The sighting path includes the microscope objective, a device for full field illumination of the sample, a two-dimensional detector, one or more imaging elements forming, with the microscope objective, a full field imaging device that forms a surface reflection sighting image of the sample of a given effective field encompassing the field of view. |
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