Sensor de força bidimensional e dispositivo para fazer penteados ou analisar penteados

sensor de força bidimensional e dispositivo para fazer penteados ou analisar penteados. a presente invenção se refere a um sensor de força bidimensional para medir uma primeira força (fx) em uma primeira direção (x) e uma segunda força (fy) em uma segunda direção (y) diferente da primeira direção (x). o sensor de força bidimensional compreende uma primeira placa resiliente (h1) orientada na segunda direção (y), sendo que uma primeira extremidade da primeira placa resiliente (h1) é disposta para ser acoplada a um ponto de referência; uma segunda placa resiliente (h2) orientada na primeira direção (x), sendo que uma primeira extremidade da segunda placa resiliente (h2) é acoplada a uma segunda extremidade da primeira placa resiliente (h1); e uma sonda de medição (p) que é acoplado a uma segunda extremidade da segunda placa resiliente (h2). vantajosamente, a sonda de medição (p) é montado em um dispositivo de extensão (a) montado na segunda extremidade da segunda placa resiliente (h2), sendo que o dispositivo de extensão (a) é disposto para posicionar a sonda de medição (p) em uma posição que desvia de um ponto de seção transversal imaginário da primeira placa resiliente (h1) e da segunda placa resiliente (h2) por não mais de 20%, de preferência não mais de 10%, e com mais preferência não mais de 5% de um comprimento do dispositivo de extensão. A two-dimensional force sensor for measuring a first force (Fx) in a first direction (X) and a second force (Fy) in a second direction (Y) different from the first direction (X). The two-dimensional force sensor comprises a first resilient plate (H1) oriented in the second direction (Y), a first end of the first resilient plate (H1) being arranged for being coupled to a reference point; a second resilient plate (H2) oriented in the first direction (X), a first end of the second resilient plate (H2) being coupled to a second end of the first resilient plate (HI); and a measurement probe (P) being coupled to a second end of the second resilient plate (H2). Advantageously, the measurement probe (P) is mounted on an extension device (A) mounted to the second end of the second resilient plate (H2), the extension device (A) being arranged for positioning the measurement probe (P) at a position deviating from an imaginary cross-section point of the first resilient plate (H1) and the second resilient plate (H2) by no more than 20%, preferably 10%, and more preferably 5%, of a length of the extension device.