sistema de análise de rasgo de filmes

trata-se de um método e um sistema para analisar uma característica física de uma amostra de filme. o sistema inclui um sistema retentor de material configurado para reter a amostra de filme; e um dispositivo de análise de rasgo configurado para rasgar a amostra de filme e medir uma característica d...

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Hauptverfasser: DONALD L. MCCARTY, SCOTT J. COLLICK, JIN WANG, ROBERT A. GUNTHER, KYLE A. MYERS, SANJAY C. SOLANKI
Format: Patent
Sprache:por
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Beschreibung
Zusammenfassung:trata-se de um método e um sistema para analisar uma característica física de uma amostra de filme. o sistema inclui um sistema retentor de material configurado para reter a amostra de filme; e um dispositivo de análise de rasgo configurado para rasgar a amostra de filme e medir uma característica do rasgo. o sistema móvel está configurado para mover a amostra de filme no sistema retentor de material para o dispositivo de análise de rasgo. A method and a system for analyzing a physical characteristic of a film sample are described herein. The system includes a material holder system configured to hold the film sample; and a tear analysis device configured to tear the film sample and measure a characteristic of the tear. The movable system is configured to move the film sample in the material holder system to the tear analysis device.